一、冷熱沖擊試驗機簡介：

  冷熱沖擊試驗箱根據(jù)待測試樣品的特殊性，分為兩箱式動態(tài)沖擊和三箱式靜態(tài)沖擊，本產(chǎn)品可做冷熱沖擊，也可以做單獨高溫或低溫使用。廣泛應(yīng)用于航空航天、電子電工、儀器儀表、汽車、通訊、集成電路、半導(dǎo)體等領(lǐng)域，可發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品潛在缺陷，做應(yīng)力篩選試驗，提高產(chǎn)品的可靠性和進行產(chǎn)品質(zhì)量控制。

二、冷熱沖擊試驗機技術(shù)參數(shù)：

三、兩箱冷熱沖擊試驗機特點：

         提籃式分為高溫區(qū)、低溫區(qū)兩部分，測試產(chǎn)品至于提籃中，沖擊時提籃將測試產(chǎn)品移進高溫區(qū)或低溫區(qū)進行沖擊，測試產(chǎn)品為動態(tài)式。

• 高溫沖擊或低溫沖擊時，zui大時間可達999H，zui大循環(huán)周期可達9999次。
• 冷卻采用二元冷凍系統(tǒng)，降溫效果快速，冷卻方式為水冷式。
• 可與電腦連接USB/RS232接口，可將溫度濕度曲線數(shù)據(jù)*記錄
• 程序循環(huán)：全部循環(huán)。zui多999回，部分循環(huán)、zui多99回

四、兩箱冷熱沖擊試驗機執(zhí)行滿足標(biāo)準(zhǔn)：

1. GJB150.5A-2009溫度沖擊試驗

2. GB/2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009溫度沖擊試驗

3. GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗

第2部分:試驗方法溫度變化試驗導(dǎo)則

3. GJB360B-2009溫度沖擊試驗

4. GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗A：低溫

5.GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2：2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫

6.GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件

7.GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術(shù)條件